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  1. 40 大学院工学研究科・工学部
  2. 40K 科研費報告書
  3. 2014年度

半導体ナノ構造の電気伝導における揺らぎの定理への測定回路の影響

http://hdl.handle.net/10076/14934
http://hdl.handle.net/10076/14934
4de55570-c4eb-4965-9e74-906f67696455
名前 / ファイル ライセンス アクション
40K17544.pdf 40K17544.pdf (321.8 kB)
Item type 報告書 / Research Paper(1)
公開日 2016-01-15
タイトル
タイトル 半導体ナノ構造の電気伝導における揺らぎの定理への測定回路の影響
言語 ja
言語
言語 jpn
キーワード
主題Scheme Other
主題 非平衡・非線形物理学
キーワード
主題Scheme Other
主題 メゾスコピック量子輸送
キーワード
主題Scheme Other
主題 半導体ナノ構造
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_18ws
資源タイプ research report
著者 内海, 裕洋

× 内海, 裕洋

ja 内海, 裕洋

en UTSUMI, YASUHIRO

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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 揺らぎの定理は非平衡状態においても普遍的に成り立つ,熱力学第2法則を微小系に拡張する定理であり,近年,量子輸送にも適用されている.本研究では量子導体において,測定回路の揺らぎの定理への影響を理論的に研究した.1)電子波干渉計とLC回路(測定回路)結合系で揺らぎの定理を検討し,測定回路の反作用はむしろ揺らぎの定理を満たすために必要であることを示した.2)2重量子ドットと量子ポイントコンタクト(測定回路)結合系において,4端子系の非線形輸送係数間の普遍的な関係式を揺らぎの定理から導き検証した.3)ナノ磁性体を対象に,非保存力であるスピントルクと熱揺らぎが,ナノ磁性体の反転に与える影響を研究した.
抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 The fluctuation theorem (FT) which is valid far from equilibrium and extends the second law of thermodynamics to small systems, has been recently applied to the mesoscopic quantum transport. We have theoretically studied the impact of the measurement circuit on the FT of quantum conductors. 1)We have considered the FT for a coupled system, an electron wave interferometer and an LC circuit (measurement circuit), and found that the back-action of the measurement circuit is necessary to be consistent with the FT for this setup. 2) We theoretically derived and experimentally checked universal relations among nonlinear 4-terminal transport coefficients of a coupled system, a double-quantum dot and a quantum point contact (measurement circuit). 3) We have also found a novel switching exponent for the magnetization reversal driven by the non-conservative spin torque and thermal fluctuations.
内容記述
内容記述タイプ Other
内容記述 2011年度~2013年度科学研究費補助金(若手研究(B))研究成果報告書
書誌情報
発行日 2014-06-11
フォーマット
内容記述タイプ Other
内容記述 application/pdf
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
その他のタイトル
Effect of the measurement circuit on the fluctuation theorem for the electric current through a semiconducting nanostructure
出版者
出版者 三重大学
科研費番号
内容記述タイプ Other
内容記述 23740294
資源タイプ(三重大)
Kaken / 科研費報告書
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Ver.1 2023-06-19 17:08:09.700583
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