| Item type |
学術雑誌論文 / Journal Article(1) |
| 公開日 |
2008-04-30 |
| タイトル |
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タイトル |
光誘起電流による半導体/金属界面の真実接触面の評価の基礎研究 |
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言語 |
ja |
| 言語 |
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言語 |
jpn |
| キーワード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
Tribology |
| キーワード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
Friction |
| キーワード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
Contact Problem |
| キーワード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
Photo Induced Current |
| キーワード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
Adhesion Theory |
| キーワード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
Transmittance of Interface Current |
| キーワード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
Tunneling Effect |
| キーワード |
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主題Scheme |
Other |
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主題 |
Real Contact Image |
| 資源タイプ |
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資源タイプ識別子 |
http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 |
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資源タイプ |
journal article |
| 著者 |
小竹, 茂夫
桜田, 寛
鈴木, 泰之
妹尾, 允史
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| 抄録 |
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内容記述タイプ |
Abstract |
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内容記述 |
Real contact area between semiconductor and metal is studied by measuring photo induced current (PIC), which is stimulated by laser at the semiconductor surface. Transmittance of PIC from semiconductor to metal interface is discussed. PIC increases proportionally with the increase of normal force between the solids, which implies adhesion like phenomena at the interface. Since PIC is strongly depended on the position of the incidence of light, PIC images, which were obtained with scanning of laser, express the distributions of the real contact area. PIC can be a new method to estimate the interface properties. |
| 書誌情報 |
日本機械学會論文集. C編
巻 65,
号 632,
p. 1677-1683,
発行日 1999-04-25
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| ISSN |
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収録物識別子タイプ |
PISSN |
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収録物識別子 |
0387-5024 |
| 書誌レコードID |
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収録物識別子タイプ |
NCID |
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収録物識別子 |
AN00187463 |
| 権利 |
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権利情報 |
社団法人日本機械学会 |
| 権利 |
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権利情報 |
本文データは学協会の許諾に基づきCiNiiから複製したものである |
| フォーマット |
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内容記述タイプ |
Other |
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内容記述 |
application/pdf |
| 著者版フラグ |
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出版タイプ |
VoR |
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出版タイプResource |
http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 |
| 日本十進分類法 |
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主題Scheme |
NDC |
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主題 |
420 |
| その他のタイトル |
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値 |
Photo-induced current between semiconductor and metal through real contact area |
| 出版者 |
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出版者 |
日本機械学会 |
| 関係URI |
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関連名称 |
http://ci.nii.ac.jp/naid/110002384831/ |
| 資源タイプ（三重大） |
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値 |
Journal Article / 学術雑誌論文 |
40A6946.pdf (743.6 kB)
